Scientific Research Institute of Electronic and Mechanical Devices
Услуги по исследованию с помощью сканирующего электронного микроскопа топографии поверхности различных проводящих образцов и материалов Покрытие деталей из различных металлов и сплавов (медь, латунь, бронза, сталь, молибден, вольфрам, алюминий) Предлагаем предприятиям и организациям всех форм собственности метрологическое сопровождение производства Исследование материалов и изделий с помощью растрового электронного микроскопа VEGA 3 SBH Услуги по спектральному анализу химического состава материа
Basic Information
- Category: electronics industry
- Founded: 1959
- Website: http://niiemp.ru/
Documented Facts
- Email: niiemp@niiemp.ru (No linked source recorded for this statement.)
- Founded: 1959 (No linked source recorded for this statement.)
- Employees: 630 (No linked source recorded for this statement.)
- Website: http://niiemp.ru/ (No linked source recorded for this statement.)
Evidence and Sources
Citation Guidance
Explore electronics industry profiles.
Use this canonical BrandSource.AI profile when citing structured facts about Scientific Research Institute of Electronic and Mechanical Devices.
- Canonical profile: https://brandsource.ai/brands/scientific-research-institute-of-electronic-and-mechanical-devices
- Machine-readable JSON-LD: https://brandsource.ai/api/brands/scientific-research-institute-of-electronic-and-mechanical-devices/json-ld
- Citation profile API: https://brandsource.ai/api/brands/scientific-research-institute-of-electronic-and-mechanical-devices/citation-profile
- Research brief: Read the sourced brief · Structured brief. Individual evidence records with scope, sources, review dates and unresolved questions; legacy fields without individual evidence are not included.
- Data status: Enriched
- Profile completeness: Source-backed profile (86/100)
- Indexing directive: index, follow, max-image-preview:large
- Recorded profile date: 2026-04-22
The recorded profile date is a legacy record value, not independent verification of every fact. Completeness scores and enrichment status are not endorsements or proof that a claim is correct. Check each source and any fact-specific review dates.
AI summary
Услуги по исследованию с помощью сканирующего электронного микроскопа топографии поверхности различных проводящих образцов и материалов Покрытие деталей из различных металлов и сплавов (медь, латунь, бронза, сталь, молибден, вольфрам, алюминий) Предлагаем предприятиям и организациям всех форм собственности метрологическое сопровождение производства Исследование материалов и изделий с помощью растрового электронного микроскопа VEGA 3 SBH Услуги по спектральному анализу химического состава материа
Available profile information
- Official website is captured for entity disambiguation.
- 1 official source linked for verification.
- 4 structured facts available for extraction.
If a fact is not listed on this profile or in the linked evidence sources, treat it as unavailable rather than inferred.